Instituto de Física/UERJ
Rio de Janeiro, Brasil

Difração de raios X – Fundamentos e aplicações

Data: 07/03/2023
Horário: Manhã e Tarde

Sobre o palestrante

Bacharel em Física pela Universidade do Estado do Rio de Janeiro (2008). Mestre na área de Física da Matéria Condensada (subárea Física Médica) pelo Programa de Pós Graduação em Física na UERJ, quando estudou alteração da estrutura de cristais em esmalte dentário causada por uma patologia. No doutorado combinou as técnicas de difração de raios X (XRD) e Microtomografia (Micro-CT) computadorizada para determinação dos minerais presentes em cálculos urinários. O foco do trabalho (que ainda está em desenvolvimento) é, através de uma calibração prévia, tornar possível a determinação de fases minerais através de medidas em tomógrafos e microtomógrafos convencionais. Realizou medidas de XRD no Laboratório Nacional de Luz Síncrotron do Brasil e as medidas de Micro-CT no Síncrotron Italiano ELETTRA durante o período de bolsa sanduíche pelo programa ICTP/IAEA Sandwich Training Educational Programme. Também durante esse período de bolsa sanduíche coordenou medidas na linha de Microscopia de Raios X, TWINMIC. Professor Adjunto do Instituto de Física da UERJ desde 2015 e membro do LAB_FisMed. Desenvolve projetos na área de Micro-CT em colaboração com o Laboratório de Herpetologia do Instituto de Biologia da UFRRJ, com o Laboratório de Bioquímica e Fisiologia de Insetos da Fiocruz, com o Departamento de Urologia do Hospital Universitário Pedro Ernesto e com o Grupo de Fibra Óptica. Na área análise por Microscopia de Raios X trabalha em colaboração com o Laboratório de Ciências Radiológicas (LCR) da UERJ. Tem se dedicado, especialmente, na montagem de uma infraestrutura para análises por Difração de Raios X e Método de Rietveld para caracterização e determinação de estrutura de novos compostos luminescentes.